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J-GLOBAL ID：201303019994648226

粒子観察装置、分離装置及びマニピュレート装置

Inventor：
徳良 晋

About 徳良 晋

, 
河口 紀仁

About 河口 紀仁

, 
原 正一

About 原 正一

, 
雨宮 尚之

About 雨宮 尚之


Applicant, Patent owner：
株式会社IHI

About 株式会社IHI


Agent (5)： 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011168314
Publication number (International publication number)：2013032934
Application date： Aug. 01, 2011
Publication date： Feb. 14, 2013
Summary：
【課題】磁性微粒子を容易に観察する。【解決手段】内部に磁性微粒子を含む流体が存在する観察セル2と、前記観察セル内の磁性微粒子の画像を連続して撮像する撮像装置5と、前記撮像装置で撮像された画像から磁性微粒子の座標と断面積を求める演算部63,64と、前回撮像された画像における追尾の対象の磁性微粒子である追尾粒子の座標及び断面積と、新たに撮像された画像から前記演算部で求められた磁性微粒子の座標及び断面積とを比較して、追尾粒子を追尾する追尾部65と、前記撮像装置で撮像された画像を表示装置に表示するとともに、前記表示装置に表示される画像上で前記追尾部が追尾した追尾粒子にマークを表示する表示処理部62とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
内部に磁性微粒子を含む流体が存在する観察セルと、 前記観察セル内の磁性微粒子の画像を連続して撮像する撮像装置と、 前記撮像装置で撮像された画像から磁性微粒子の座標と断面積を求める演算部と、 前回撮像された画像における追尾の対象の磁性微粒子である追尾粒子の座標及び断面積と、新たに撮像された画像から前記演算部で求められた磁性微粒子の座標及び断面積とを比較して、追尾粒子を追尾する追尾部と、 前記撮像装置で撮像された画像を表示装置に表示するとともに、前記表示装置に表示される画像上で前記追尾部が追尾した追尾粒子にマークを表示する表示処理部と、 を備えることを特徴とする粒子観察装置。
IPC (1)：
G01N 15/14
FI (2)：
G01N15/14 D ,  G01N15/14 K
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (6)
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