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J-GLOBAL ID：201303042006295080

被測定物の将来温度推定方法、装置、及びコンピュータプログラム

Inventor：
伊藤 忠幸

About 伊藤 忠幸

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中川 淳一

About 中川 淳一

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山本 昌宏

About 山本 昌宏

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伊東 一文

About 伊東 一文


Applicant, Patent owner：
新日本製鐵株式会社

About 新日本製鐵株式会社


Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2007240053
Publication number (International publication number)：2009069080
Patent number：4964720
Application date： Sep. 14, 2007
Publication date： Apr. 02, 2009
Claim (excerpt)：
【請求項1】 時間経過に伴って厚み及び温度が変化する固体状被測定物における熱履歴情報と、前記熱履歴情報が得られた際の前記厚み情報とが既知である被測定物の将来温度挙動を推定する将来温度推定方法であって、 前記被測定物の厚みを、前記既知の情報の厚みを基準に計算上増減させて、当該増減させた複数の厚みに対する熱履歴を熱履歴計算手段により計算する熱履歴計算ステップと、 前記被測定物の表面に設定した解析エリアを複数に分割した各領域の温度を計測し、そのうちの、1つの領域についての温度を温度計測手段によって所定の時間だけ計測する温度計測ステップと、 前記既知である被測定物の厚み、及びその厚みに前後する前記計算上設定した厚みに対して、それぞれ、前記各領域の温度と前記解析エリアの平均温度との差であるサーマルコントラストφiを、「φi=Ti-T0 1≦i≦N」から計算するサーマルコントラスト計算ステップと、 前記サーマルコントラスト計算ステップにおいて計算した複数のサーマルコントラストφiを基底関数にして予測式「γ(t)」を、以下に示すように構成する予測式構成ステップと、 Nは基底関数φiの個数、iはそのインデック、WiはN個の基底関数を使って予測式γ(t)を記述する際の基底関数φiの重み係数、tは任意の時間を示す。 前記予測式構成ステップにおいて構成した予測式「γ(t)」における「係数wi」を、以下の式を用いて決定する係数決定ステップと、 dはサーマルコントラスト実測値、mはサーマルコントラストの実測値の個数を示す。 前記係数決定ステップにおいて決定した「係数w1〜wN」を、前述した(2式)に代入して、計測している被測定物の将来予測曲線を決定する予測曲線決定ステップとを備えることを特徴とする被測定物の将来温度推定方法。
IPC (3)：
G01N 25/18 ( 200 6.01) ,  G01K 3/00 ( 200 6.01) ,  G01J 5/48 ( 200 6.01)
FI (3)：
G01N 25/18 L ,  G01K 3/00 ,  G01J 5/48 A
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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