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J-GLOBAL ID：201303043978201554

眼軸長測定装置

Inventor：
遠藤 雅和

About 遠藤 雅和

, 
鈴木 邦生

About 鈴木 邦生


Applicant, Patent owner：
株式会社ニデック

About 株式会社ニデック


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011141958
Publication number (International publication number)：2013005982
Application date： Jun. 27, 2011
Publication date： Jan. 10, 2013
Summary：
【課題】 白内障眼の眼軸長を好適に測定できる。【解決手段】 光源から出射された光を分割し、測定ビームを眼底に投光する投光光学系と、眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された光を受光素子に導く受光光学系と、光路差を調整するために配置された光学部材と、を備える測定光学系を有し、受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、被検眼前眼部と略共役な位置に撮像面を持つ撮像素子を有し、眼底反射光によって照明された被検眼瞳孔部における徹照像を撮像する撮像光学系と、撮像素子によって取得された徹照像を処理することにより、干渉信号のS/N比が許容値を満たすように設定された所定領域における混濁部の二次元分布を求め、求められた二次元分布に基づいて所定領域内における光透過領域を特定する光透過領域特定手段と、を備える。【選択図】 図8
Claim (excerpt)：
光源から出射された光を分割し、分割された光の一方から生成された測定ビームを眼底に向けて投光する投光光学系と、 眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された光を受光素子に導く受光光学系と、 前記一方の光と他方の光の光路差を調整するために光軸方向に移動可能に配置された光学部材と、を備える測定光学系を有し、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、 被検眼前眼部と略共役な位置に配置された撮像面を持つ撮像素子を有し、眼底反射光によって照明された被検眼瞳孔部における徹照像を撮像素子により撮像する撮像光学系と、 撮像素子によって取得された徹照像を処理することにより、干渉信号のS/N比が許容値を満たすように設定された所定領域における混濁部の二次元分布を求め、求められた二次元分布に基づいて前記所定領域内における光透過領域を特定する光透過領域特定手段と、を備えることを特徴とする眼軸長測定装置。
IPC (1)：
A61B 3/10
FI (1)：
A61B3/10 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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