Pat
J-GLOBAL ID:201303044709542627
距離画像生成装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人 山王坂特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011186831
Publication number (International publication number):2013050310
Application date: Aug. 30, 2011
Publication date: Mar. 14, 2013
Summary:
【課題】光飛行時間型距離画像センサを用いて撮影空間の距離画像生成する際、撮影空間内の状況によらず、距離計測の精度を高める。【解決手段】距離画像と同タイミングで生成した同撮像空間の照射光強度画像を用い、撮影空間に他の画素の画素値算出に影響を与える程入射光(反射光)強度の強い領域があるか否かを判別する。反射光の強い領域がある場合、その領域への照射と他の領域への照射とを独立して制御する分割照射を行うよう光源を制御する。判別は、照射光強度画像の各画素値を予め定めた閾値と比較することにより行う。【選択図】図1
Claim (excerpt):
撮影空間を2つ以上の単位照射領域に分割して変調光を照射する空間分割照射手段と、前記変調光が前記撮影空間内の対象物で反射した反射光を受光して受光光量に応じた電荷に変換後蓄積する複数の撮像素子と、前記複数の撮像素子それぞれに蓄積された電荷から距離値を画素値とする前記撮影空間の距離画像を生成する距離画像生成手段と、前記空間分割照射手段および前記撮像素子の動作を制御する制御手段と、を備える距離画像生成装置であって、
前記撮像素子は、
前記撮像素子毎に前記反射光を受光して電荷に変換する光電変換素子と、
前記光電変換素子で変換した電荷を蓄積する電荷蓄積手段と、を備え、
前記制御手段は、前記空間分割照射手段による前記単位照射領域への照射と、当該単位照射領域からの反射光を受光する前記撮像素子の前記電荷蓄積手段における電荷の蓄積とが同期するよう制御すること
を特徴とする距離画像生成装置。
IPC (3):
G01S 17/36
, G01S 17/42
, G01C 3/06
FI (4):
G01S17/36
, G01S17/42
, G01C3/06 120Q
, G01C3/06 140
F-Term (34):
2F112AD01
, 2F112BA07
, 2F112DA09
, 2F112DA15
, 2F112DA21
, 2F112DA25
, 2F112DA28
, 2F112EA03
, 2F112EA09
, 2F112EA11
, 2F112FA29
, 2F112FA45
, 2F112GA01
, 5J084AA05
, 5J084AD02
, 5J084AD05
, 5J084BA03
, 5J084BA12
, 5J084BA20
, 5J084BA34
, 5J084BA40
, 5J084BA48
, 5J084BB28
, 5J084CA05
, 5J084CA11
, 5J084CA12
, 5J084CA19
, 5J084CA24
, 5J084CA44
, 5J084CA65
, 5J084CA69
, 5J084DA01
, 5J084EA02
, 5J084FA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
距離画像入力装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-224346
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
距離画像センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-191290
Applicant:パナソニック電工株式会社
-
距離画像生成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-036347
Applicant:スタンレー電気株式会社
-
表面形状測定
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-579742
Applicant:インストロプレシジョンリミテッド
-
レーザ距離画像生成装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-147933
Applicant:防衛庁技術研究本部長, 日本電気株式会社
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