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J-GLOBAL ID:201303057579291613

投影システムの校正装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人広江アソシエイツ特許事務所
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2007320345
Publication number (International publication number):2009147480
Patent number:5207167
Application date: Dec. 12, 2007
Publication date: Jul. 02, 2009
Claim (excerpt):
【請求項1】 移動可能に設置される物体の表面に画像を投影して表示する投影手段を有する投影システムに適用される校正装置であって、 画像投影と同一の投影手段を用いて投影する校正用の6点以上の参照点を作成する参照点作成手段と、 投影された前記校正用の参照点の三次元位置を計測する位置計測センサとを備えており、 投影パラメータに基づき前記投影手段により投影空間に投影される参照点の三次元位置と前記位置計測センサによって入力された前記参照点の三次元位置の測定値とを比較することにより、前記投影手段によって画像の投影空間に定義される座標系と前記位置計測センサによって計測空間に定義される座標系とを整合させており、 前記位置計測センサは、三次元の位置を計測する位置計測部と、該位置計測部を保持する本体部とを備え、前記位置計測部が本体部に対してオフセットされており、 前記本体部の頂点を前記参照点に接触させ、前記本体部の頂点を中心に前記位置計測センサ全体を回転させることによって、同一の前記参照点について2回以上の位置測定を行うことを特徴とする校正装置。
IPC (4):
H04N 5/74 ( 200 6.01) ,  G03B 21/00 ( 200 6.01) ,  G03B 21/56 ( 200 6.01) ,  G09G 5/00 ( 200 6.01)
FI (6):
H04N 5/74 D ,  G03B 21/00 D ,  G03B 21/56 Z ,  G09G 5/00 510 B ,  G09G 5/00 550 C ,  G09G 5/00 X
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (6)
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