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J-GLOBAL ID：201303060559762033

屈折率測定方法および屈折率測定装置、光学部材の製造方法

Inventor： 伊東 一良 ,  小関 泰之 ,  磯部 圭佑 ,  玉木 隆幸 ,  片岡 省吾 ,  川澄 健人
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (1)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2006302038
Publication number (International publication number)：2008116409
Patent number：4992083
Application date： Nov. 07, 2006
Publication date： May. 22, 2008
Claim (excerpt)：

【請求項1】 透明材料内の屈折率が既知の基準点および屈折率が未知の被測定点に対して、超短光パルスビームを集光照射して四光波混合過程によるFWM光を生じさせ、前記基準点での前記FWM光の強度と、前記被測定点での前記FWM光の強度とを用いて、前記被測定点の線形屈折率を求めることを特徴とする屈折率測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/41 ( 200 6.01) ,  G01N 21/65 ( 200 6.01) ,  G01M 11/02 ( 200 6.01) ,  G02B 3/00 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 21/41 Z ,  G01N 21/65 ,  G01M 11/02 H ,  G02B 3/00 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 屈折率測定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-218624   Applicant：京都電子工業株式会社
• 光ファイバの非線形効果測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-005318   Applicant：株式会社フジクラ
• 光源装置及びその光源装置が適用される生体分子解析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-155630   Applicant：オリンパス株式会社
• 特開平2-008727
  

Cited by examiner (4)

• 屈折率測定方法及びその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-218624   Applicant：京都電子工業株式会社
• 光ファイバの非線形効果測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-005318   Applicant：株式会社フジクラ
• 光源装置及びその光源装置が適用される生体分子解析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-155630   Applicant：オリンパス株式会社
• 特開平2-008727
  

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• Nonlinear optical properties of pulsed-laserdepositedGeAsSe films and simulationof a nonlinear direc

Cited by examiner (1)

• Nonlinear optical properties of pulsed-laserdepositedGeAsSe films and simulationof a nonlinear direc