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J-GLOBAL ID：201303073415345378

熱物性測定用試料表面処理方法

Inventor： 阿子島 めぐみ ,  根田 雅美 ,  馬場 哲也
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2006159100
Publication number (International publication number)：2007327851
Patent number：4817308
Application date： Jun. 07, 2006
Publication date： Dec. 20, 2007
Claim (excerpt)：

【請求項1】光加熱時の試料の温度応答を光検出素子により非接触で観測して熱物性値を算出する熱物性測定に際して、熱物性測定用試料の表面にカーボンブラックを含む液体を用いたスピンコーティングにより黒化膜を形成して、加熱用光を充分に吸収し、かつ観測用光検出素子の対応波長に充分な感度を持つ試料を得ることができるようにした熱物性測定用試料表面処理方法において、 試料よりも厚い板状のプラスチック消しゴムを試料より僅かに小さくくり抜いて孔を形成し、 くり抜きにより抜き取られた部材を前記孔の下方の一部に挿入して孔の上方に試料挿入部を形成し、 前記試料挿入部に試料をプラスチック消しゴムの弾性を利用して圧入保持して試料保持部材を作成し、 前記試料保持部材をスピンコーターに固定し、 カーボンブラックを含む液体を試料の上に乗せて、スピンコーターを回転させ、遠心力により試料表面にカーボンブラックを含む液体を試料の表面に塗布するとともに試料周辺の余分な液体をプラスチック消しゴムで吸い取らせ、 スピンコーターから前記試料保持部材をはずして乾かした後、前記試料挿入部から試料をはずすことにより試料表面に黒化膜を形成したことを特徴とする熱物性測定用試料表面処理方法。

IPC (1)：

G01N 25/18 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 25/18 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• レーザフラッシュ法を用いた熱拡散率の測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-254999   Applicant：株式会社超高温材料研究所
• 液晶表示装置及び電子機器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-012006   Applicant：セイコーエプソン株式会社
• 濃度測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-148568   Applicant：日本特殊陶業株式会社
• 微小領域熱物性測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-290555   Applicant：工業技術院長, 株式会社ベテル, 竹歳尚之, 馬場哲也
• 透明導電層の形成方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-133150   Applicant：住友金属鉱山株式会社