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J-GLOBAL ID：201303085679199912
三次元計測方法、計測装置、復元方法および復元装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
特許業務法人エム・アイ・ピー
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2005323904
Publication number (International publication number)：2007132715
Patent number：4784270
Application date： Nov. 08, 2005
Publication date： May. 31, 2007
Claim (excerpt)：
【請求項1】物体の三次元形状を計測する方法であって、
同時に2つの画像を撮影可能な撮影手段により前記物体を撮影するステップと、
光学的に差異となる差異領域を発生させ、前記物体上を、前記差異領域を移動させるステップと、
前記撮影手段により前記差異領域が含まれるように前記物体を複数撮影するステップと、
前記差異領域と前記物体とを含む各画像の各領域の輝度値を、該各領域と同じ二次元座標位置にある前記差異領域を含まない画像の各領域の輝度値で減算し、差異領域に輝度を有する複数組の減算処理画像を生成するステップと、
前記複数組の減算処理画像の、前記撮影手段の一方の側から撮影され減算処理された複数の第1減算処理画像に含まれる差異領域の各部分に対応する、前記撮影手段の他方の側から撮影され減算処理された複数の第2減算処理画像に含まれる差異領域の各部分を、該差異領域の特徴を有する形状部分に基づいて探索するステップと、
前記第1減算処理画像に含まれる差異領域の各部分の二次元座標位置データと前記第2減算処理画像に含まれる差異領域の探索された対応する各部分の二次元座標位置データとを用いて、該各部分の三次元座標位置を計算するステップとを含む、方法。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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3次元入力方法及び3次元入力装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平11-366114
Applicant：ミノルタ株式会社
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監視装置および監視方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-229239
Applicant：住友大阪セメント株式会社
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三次元計測装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-213536
Applicant：村田機械株式会社
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