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J-GLOBAL ID:201403001647613847
眼科装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
特許業務法人快友国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012261403
Publication number (International publication number):2014104275
Application date: Nov. 29, 2012
Publication date: Jun. 09, 2014
Summary:
【課題】 被検眼の脈絡膜と網膜の少なくとも一方の状態を適切に診断することができる眼科装置を提供する。【解決手段】 本願の眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共に被検眼の内部からの測定光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた測定光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子と、受光素子で受光する干渉光から脈波より短い周期で反復取得した被検眼内部の設定された位置での複数の眼底断層画像に基づいて、脈絡膜と網膜の少なくとも一方の形態を表す指標の動的変化を出力する演算装置を有している。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
光源と、
光源からの光を被検眼の内部に照射すると共に被検眼の内部からの測定光を導く測定光学系と、
光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、
測定光学系により導かれた測定光と参照光学系により導かれた反射光とが合成された干渉光を受光する受光素子と、
受光素子で受光する干渉光から脈波より短い周期で反復取得した被検眼内部の設定された位置での複数の眼底断層画像に基づいて、脈絡膜と網膜の少なくとも一方の形態を表す指標の動的変化を出力する演算装置と、を有している、眼科装置。
IPC (2):
FI (2):
A61B3/10 R
, A61B5/02 310A
F-Term (4):
4C017AA09
, 4C017AB07
, 4C017AC28
, 4C017EE15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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光干渉断層撮影装置、画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-079367
Applicant:キヤノン株式会社
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断層計測装置及び断層計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-242418
Applicant:国立大学法人大阪大学
-
画像処理装置及び画像処理システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-040274
Applicant:キヤノン株式会社
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眼科測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-115200
Applicant:興和株式会社
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特開昭63-264041
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循環器情報計測システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-236363
Applicant:テルモ株式会社
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