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J-GLOBAL ID：200903018974575495

断層計測装置及び断層計測方法

Inventor：
春名 正光

About 春名 正光

, 
林 直人

About 林 直人

, 
近江 雅人

About 近江 雅人


Applicant, Patent owner：
国立大学法人大阪大学

About 国立大学法人大阪大学


Agent (2)： 河野 登夫 ,  河野 英仁
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005242418
Publication number (International publication number)：2007054251
Application date： Aug. 24, 2005
Publication date： Mar. 08, 2007
Summary：
【課題】 被検査体の動態機能(特にヒト細動脈の断層構造)を所要のタイミングで計測することができる断層計測装置及び断層計測方法を提供する。 【解決手段】 光電脈波計19でヒト指の細動脈の脈波を取得し、取得した脈波に基づいて細動脈の拡張期又は収縮期を示すタイミング信号を処理部10へ出力し、処理部10は、出力されたタイミング信号に基づいてヒト指の照射点を走査するフレームトリガをガルバノミラードライバ9へ出力する。ガルバノミラードライバ9は、入力されたフレームトリガに同期してガルバノミラー駆動電圧を生成してガルバノミラー7bに印加する。光位相変調器4、5は、光軸方向(生体の深さ方向)の参照光と信号光との光路長差を変化させる(走査する)。照射部7は、ガルバノミラー駆動電圧の1周期の間に、生体表面上の信号光の照射点を、生体表面に沿って直線状に所定の距離を一往復して走査する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
低コヒーレンス光源からの光を参照光及び信号光に分離して夫々参照光路及び信号光路に導き、分離した信号光を被検査体表面に照射し、照射点を該被検査体表面に沿って走査しつつ、参照光の光路長を変化させて、前記参照光の光路長に対応する被検査体表面からの深層位置で反射した信号光と前記参照光路の路端で反射させた参照光との光干渉に基づいて被検査体の断層を計測する断層計測装置において、 被検査体に内在する細動脈の脈波を取得する取得手段と、 該取得手段によって取得された脈波に基づいて細動脈の拡張期又は収縮期を示すタイミング信号を出力する出力手段と を備え、 該出力手段によって出力されたタイミング信号に基づいて、照射点を被検査体表面に沿って走査するようにしてあることを特徴とする断層計測装置。
IPC (2)：
A61B 10/00 ,  G01N 21/17
FI (2)：
A61B10/00 E ,  G01N21/17 630
F-Term (22)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059GG02 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04 ,  4C017AA09 ,  4C017AB03 ,  4C017AC28 ,  4C017EE15
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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