導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法及び装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010206737
Publication number (International publication number)：2012063207
Patent number：5414068
Application date： Sep. 15, 2010
Publication date： Mar. 29, 2012
Claim (excerpt)：

【請求項1】導電性試料に電流を流して急速通電自己加熱し、該試料を目標温度Tmを超えて任意の温度へ到達させ、目標温度Tmにおける試料の加熱速度dT/dt、試料を流れる電流I、試料の電圧降下Vの測定データから次の関係式を利用してXとYを算出するステップ、ただし式中のAは試料の有効表面積、σSBはステファン・ボルツマン定数、Tmは目標温度、T0は試料周囲の温度である。試料に流す電流を変えることで加熱速度を離散的に変えて上記のステップを繰り返すことにより複数組のXとYを算出するステップ、該複数のXとYの値に対して、XとYが次式に示す線形関係を持つことを利用して、近似的に導出したXとYの1次式の傾きと切片の値から比熱容量cp及び半球全放射率εtを算出するステップを含むことを特徴とする導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定方法。

IPC (1)：

G01N 25/20 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 25/20 F

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特許第4528954号
比熱容量測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-249642 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
物体加熱方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-298883 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所

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