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J-GLOBAL ID：201403064738793718

角膜経上皮電気抵抗値の測定方法及び装置

Inventor： 上松 聖典 ,  北岡 隆 ,  西田 幸二 ,  田中 佑治 ,  西澤 松彦 ,  梶 弘和 ,  関根 宗一郎
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 長崎大学 ,  国立大学法人大阪大学
Agent (6)： 高島 一 ,  土井 京子 ,  鎌田 光宜 ,  田村 弥栄子 ,  山本 健二 ,  村田 美由紀
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010501917
Patent number：5470508
Application date： Mar. 03, 2009
Claim (excerpt)：

【請求項1】 電極を、角膜上および結膜上に配置することを特徴とする、角膜経上皮電気抵抗の測定方法。

IPC (4)：

A61B 3/10 ( 200 6.01) ,  A61B 5/0408 ( 200 6.01) ,  A61B 5/0478 ( 200 6.01) ,  A61B 5/0492 ( 200 6.01)

FI (2)：

A61B 3/10 E ,  A61B 5/04 300 J

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特表平3-503971
  

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 角膜抵抗測定装置による角膜障害の定量化の検討