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J-GLOBAL ID：201403079157670493

質量分析方法

Inventor：
大橋 好輝

About 大橋 好輝

, 
三島 有二

About 三島 有二


Applicant, Patent owner：
ツルイ化学株式会社

About ツルイ化学株式会社


Agent (2)： 室田 力雄 ,  羽柴 拓司
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010186783
Publication number (International publication number)：2012047453
Patent number：5627338
Application date： Aug. 24, 2010
Publication date： Mar. 08, 2012
Claim (excerpt)：
【請求項1】 ソフトイオン化質量分析装置で得られる時間、質量電荷比(m/z)及びシグナル強度からなる三次元の測定データから、被測定物についての質量電荷比(m/z)とシグナル強度とからなる二次元のマススペクトルデータを抽出するマススペクトルデータ抽出工程と、 該マススペクトルデータ抽出工程で抽出されたマススペクトルデータを予め作成されるデータベースと同じデータ条件に加工するマススペクトルデータ加工工程と、 該マススペクトルデータ加工工程で得られた加工マススペクトルデータ(Su)を、多変量解析手段を用いて、前記データベースと照合することで、加工マススペクトルデータ(Su)に含まれる1乃至複数のマトリックスの成分を特定すると共にその成分の混合比率を特定するマトリックス特定工程と、 該マトリックス特定工程で特定されたマトリックスの成分及び混合比率とから、その成分及び混合比率に対応したマススペクトルデータを、標準マススペクトルデータ(Sr)として、データベースのマススペクトルデータから合成する標準マススペクトルデータ(Sr)合成工程と、 前記加工マススペクトルデータ(Su)から前記標準マススペクトルデータ(Sr)を減算することで、加工マススペクトルデータ(Su)からマトリックス成分及びマトリックス由来成分によるシグナル値の重複を除去するノイズ除去工程と、を有し、 前記マススペクトルデータ抽出工程では、ソフトイオン化質量分析装置での時間、質量電荷比(m/z)及びシグナル強度からなる三次元の測定データに対して、一定の時間帯における各質量電荷比(m/z)毎のシグナル強度の平均値若しくは総和値を得て、質量電荷比(m/z)とシグナル強度とからなる二次元のマススペクトルデータを得、 前記一定の時間帯の採用は、三次元の測定データの各質量電荷比(m/z)毎に各サンプリング時間のシグナル強度を変量とした主成分分析を行い、得られた第1〜第n主成分のローディングデータと時間とからなる二次元データと、該二次元データから抽出される1乃至複数の変曲点とに基づいて、一定の時間帯を採用することを特徴とする質量分析方法。
IPC (1)：
G01N 27/62 ( 200 6.01)
FI (2)：
G01N 27/62 D ,  G01N 27/62 V
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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