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J-GLOBAL ID:201403080576333721

集光径可変なX線集光システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012150245
Publication number (International publication number):2014013169
Application date: Jul. 04, 2012
Publication date: Jan. 23, 2014
Summary:
【課題】 同一集光光学系を用いて回折限界下でX線の集光径を、走査型X線顕微鏡での使用に適した50nm以下からX線回折顕微鏡での使用に適したμmオーダーまでの広範囲に変更可能なX線集光システムを提供する。【解決手段】 第1楕円E1の一方の焦点を光源Aとし、他方の焦点を共通焦点Bとするとともに、第2楕円E2の一方の焦点を固定焦点Cとし、他方の焦点を共通焦点と一致させ、第1ミラーMUの形状を第1楕円の一部で形成し、第2ミラーMDの形状を第2楕円の一部で形成し、光源と固定焦点の位置を固定したまま、共通焦点の位置と第1ミラーと第2ミラーの形状を変化させて、固定焦点での集光径を変える。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
光源から射出されたX線を反射面の形状が可変な1次元の第1ミラーと第2ミラーで反射させて固定焦点に集光する斜入射X線光学系であり、第1楕円の一方の焦点を光源とし、他方の焦点を共通焦点とするとともに、第2楕円の一方の焦点を光学系全体の固定焦点とし、他方の焦点を前記共通焦点と一致させ、前記第1ミラーの反射面の形状を前記第1楕円の一部で形成し、前記第2ミラーの反射面の形状を前記第2楕円の一部で形成し、前記光源からのX線を前記第1ミラーの反射面で反射させて前記共通焦点を通過させた後、前記第2ミラーの反射面で反射させて固定焦点に集光する配置とし、前記光源と固定焦点の位置を固定したまま、前記共通焦点の位置を変更してそれに対応して前記第1ミラーと第2ミラーの反射面の形状を変化させることにより、前記固定焦点での集光径を変えることを特徴とする集光径可変なX線集光システム。
IPC (2):
G21K 1/06 ,  G21K 1/00
FI (3):
G21K1/06 K ,  G21K1/06 B ,  G21K1/00 X
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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