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J-GLOBAL ID：201603000870047186

光周波数コムによるレーザ周波数測定の精度評価方法及び装置

Inventor：
川▲崎▼ 和彦

About 川▲崎▼ 和彦


Applicant, Patent owner：
株式会社ミツトヨ

About 株式会社ミツトヨ


Agent (3)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014161912
Publication number (International publication number)：2016038298
Application date： Aug. 07, 2014
Publication date： Mar. 22, 2016
Summary：
【課題】光周波数コムの評価を、より簡単な装置でかつより簡単な手法で実施可能とする。【解決手段】光周波数コムによるレーザ周波数測定の精度を評価する際に、周波数可変で、かつ、周波数に応じて発振モードが変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ120の発振周波数を変化させた際の発振モードの観測結果に基づいて、第一光周波数コム110と周波数可変レーザ120からの出力光を干渉させた際に得られる第一ビート周波数を検知する際の第一光周波数コム110からの出力光のモード次数n1を特定し、モード次数n1と、検知された第一ビート周波数、及び、第二光周波数コム140と周波数可変レーザ120からの出力光を干渉させた際に得られる第二ビート周波数とに基づいて、第二光周波数コム140のモード次数n2を特定し、第一光周波数コム110による第一絶対周波数測定結果と第二光周波数コム140による第二絶対周波数測定結果を比較する。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
光周波数コムによるレーザ周波数測定の精度を評価する方法であって、 周波数可変で、かつ、当該周波数に応じて発振モードが変化するモード移行周波数を有する周波数可変レーザ装置の発振周波数を変化させた際の発振モードの観測結果に基づいて、第一光周波数コムと前記周波数可変レーザ装置からの出力光を干渉させた際に得られる第一ビート周波数を検知する際の前記第一光周波数コムからの出力光のモード次数を特定し、 前記モード次数と、検知された前記第一ビート周波数、及び、第二光周波数コムと前記周波数可変レーザ装置からの出力光を干渉させた際に得られる第二ビート周波数とに基づいて、前記第二光周波数コムのモード次数を特定し、 前記第一光周波数コムによる第一絶対周波数測定結果と前記第二光周波数コムによる第二絶対周波数測定結果を比較することを特徴とする、光周波数コムによるレーザ周波数測定の精度評価方法。
IPC (3)：
G01J 9/02 ,  H01S 3/00 ,  G02F 1/365
FI (3)：
G01J9/02 ,  H01S3/00 G ,  G02F1/365
F-Term (17)：
2K102AA05 ,  2K102AA08 ,  2K102BA18 ,  2K102BA19 ,  2K102BB02 ,  2K102BB03 ,  2K102BC02 ,  2K102DA06 ,  2K102DC08 ,  2K102EA25 ,  2K102EB10 ,  2K102EB16 ,  2K102EB20 ,  2K102EB22 ,  5F172AD01 ,  5F172NP04 ,  5F172NP18
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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