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J-GLOBAL ID：201603003009847642

物質の熱拡散率測定方法およびその方法を使った物質の熱電特性評価装置

Inventor： 長谷川 靖洋 ,  本間 亮英
Applicant, Patent owner： 国立大学法人埼玉大学
Agent (1)： 峯岸 武司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014151139
Publication number (International publication number)：2016024174
Application date： Jul. 24, 2014
Publication date： Feb. 08, 2016
Summary：

【課題】 熱拡散率αについての正確かつ迅速な測定が被測定物の形状に制約を受けることなく行える物質の熱拡散率測定方法および熱電特性評価装置を提供する。【解決手段】 熱電変換素子1の距離Lにおける一端部に角周波数ωで振動する温度振動21を与え、一端部に与えるこの温度振動21に起因するゼーベック効果によって一端部に生じる熱起電力Vα(L)の第1電気信号の位相をロックインアンプ11で、熱電変換素子1の他端部から距離x離れた第1測定箇所に生じる熱起電力Vα(x)の第2電気信号の位相をロックインアンプ12で計測する。一端部から第1測定箇所に伝わる温度振動21の位相遅れθを各電気信号の位相差θとして求める。長さL,角周波数ω,距離xおよび位相差θと被測定物の熱拡散率αとの間の(15)式の相関関係に基づいて、同じ熱電変換素子1を使ってゼーベック係数Sと電気抵抗率ρに加えて、熱拡散率αを算出する。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

長さLをした被測定物の一端部に角周波数ωで振動する温度振動を与え、前記一端部に与える前記温度振動に起因するゼーベック効果によって前記一端部に生じる熱起電力の第1電気信号の位相を計測すると共に、前記一端部に与える前記温度振動に起因するゼーベック効果によって前記被測定物の他端部から距離x離れた第1測定箇所に生じる熱起電力の第2電気信号の位相を計測することで、前記一端部から前記第1測定箇所に伝わる前記温度振動の位相遅れを各前記電気信号の位相差θとして求め、前記長さL,前記角周波数ω,前記距離xおよび前記位相差θと前記被測定物の熱拡散率αとの間の相関関係に基づいて前記熱拡散率αを算出する物質の熱拡散率測定方法。

IPC (1)：

G01N 25/18

FI (1)：

G01N25/18 E

F-Term (13)：

2G040AB08 ,  2G040AB18 ,  2G040BA08 ,  2G040BA25 ,  2G040CA02 ,  2G040CA13 ,  2G040CA22 ,  2G040DA03 ,  2G040DA15 ,  2G040EA02 ,  2G040EA11 ,  2G040EC04 ,  2G040HA05