Pat
J-GLOBAL ID：201603003681198032

濃度定量装置、光吸収係数算出方法、濃度定量方法、光吸収係数の算出を行うプログラム及び濃度の算出を行うプログラム

Inventor：
西田 和弘

About 西田 和弘

, 
清水 孝一

About 清水 孝一

, 
加藤 祐次

About 加藤 祐次


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (3)： 志賀 正武 ,  大浪 一徳 ,  佐伯 義文
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011211688
Publication number (International publication number)：2013072736
Patent number：5834704
Application date： Sep. 27, 2011
Publication date： Apr. 22, 2013
Claim (excerpt)：
【請求項1】 複数の光散乱媒質の層から形成される観測対象のうち、任意の層における目的成分の濃度を定量する濃度定量装置であって、 前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層における伝搬光路長分布のモデルを記憶する光路長分布記憶手段と、 前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の時間分解波形のモデルを記憶する時間分解波形記憶手段と、 前記観測対象に対して照射する短時間パルス光の、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層における光路長のバラツキを記憶する光路長バラツキ記憶手段と、 前記観測対象に短時間パルス光を照射する照射手段と、 前記短時間パルス光が前記観測対象によって後方散乱した光を受光する受光手段と、 前記照射手段が短時間パルス光を照射した時刻以降の所定の時刻において前記受光手段が受光した光の強度を取得する光強度取得手段と、 前記光路長分布記憶手段から、前記伝搬光路長分布のモデルの前記所定の時刻における、前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長を取得する光路長取得手段と、 前記時間分解波形記憶手段から、前記短時間パルス光の時間分解波形のモデルの前記所定の時刻における光の強度を取得する光強度モデル取得手段と、 前記光強度取得手段が取得した光強度と、前記光路長取得手段が取得した前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長と、前記光強度モデル取得手段が取得した光強度モデルと、前記光路長バラツキ記憶手段に記憶された前記複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長バラツキと、に基づいて、前記任意の層の光吸収係数を算出する光吸収係数算出手段と、 前記光吸収係数算出手段が算出した光吸収係数に基づいて、前記任意の層における前記目的成分の濃度を算出する濃度算出手段と、 を含むことを特徴とする濃度定量装置。
IPC (3)：
G01N 21/3577 ( 201 4.01) ,  G01N 21/359 ( 201 4.01) ,  A61B 5/1455 ( 200 6.01)
FI (3)：
G01N 21/357 ,  G01N 21/359 ,  A61B 5/14 322
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
Show all
Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM