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J-GLOBAL ID：201603006099886039

試料積載プレート

Inventor： 宮本 光教 ,  鳥海 和宏
Applicant, Patent owner： シチズンホールディングス株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014263089
Publication number (International publication number)：2016121968
Application date： Dec. 25, 2014
Publication date： Jul. 07, 2016
Summary：

【課題】試料積載プレート上で試料が適正に濡れ広がることが可能な試料積載プレートを提供する。【解決手段】基板110の表面に試料を積載するための試料積載領域137を備えた試料積載プレート100であって、前記基板100の表面には前記基板100の表面より高い疎水性を備えた疎水層122が形成され、前記疎水層122は前記試料積載領域137より小さく前記基板100表面が露出した複数の開口部1221を有する試料積載プレート100とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

基板の表面に試料を積載するための試料積載領域を備えた試料積載プレートであって、 前記基板の表面には、前記試料積載領域と等しい大きさの範囲内において、疎水面と親水面とが互いに連続した部位を有することを特徴とする試料積載プレート。

IPC (3)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/16

FI (3)：

G01N27/62 F ,  H01J49/04 ,  H01J49/16

F-Term (8)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA01 ,  2G041JA07 ,  5C038EE02 ,  5C038EF17 ,  5C038EF21 ,  5C038GG07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

• 疎水性ゾーン装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2003-584329   Applicant：ジーンオームサイエンシーズインク.
• MALDI用サンプル調製方法及び質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-140991   Applicant：株式会社島津製作所, 大学共同利用機関法人自然科学研究機構
• 標的物質質量分析システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-048148   Applicant：日本レーザ電子株式会社
• MALDI質量分析法のためのマトリックス干渉の軽減
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2006-523898   Applicant：アプレラコーポレイション
• 質量分析用試料調製プレート
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2006-503458   Applicant：ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド
• マイクロプレート
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-200527   Applicant：株式会社カケンジェネックス