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J-GLOBAL ID:201603006403505357

磁気抵抗素子および磁気メモリ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 勝沼 宏仁 ,  関根 毅 ,  鈴木 順生
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014234949
Publication number (International publication number):2016100415
Application date: Nov. 19, 2014
Publication date: May. 30, 2016
Summary:
【課題】記憶層を薄膜化しても、下地層に含まれる元素の拡散の影響を低減することのできる磁気抵抗素子および磁気メモリを提供する。【解決手段】本実施形態による磁気抵抗素子は、NiおよびCoのうちの少なくとも1つの元素と、Alとを含み、CsCl構造を有する第1層と、垂直磁気異方性を有する磁性体を含む第1磁性層と、前記第1層と前記第1磁性層との間に設けられた第1非磁性層と、前記第1層と前記第1非磁性層との間に設けられ、MnおよびGaを含むとともに垂直磁気異方性を有する磁性体を含む第2磁性層と、を備えている。【選択図】図1
Claim (excerpt):
NiおよびCoのうちの少なくとも1つの元素と、Alとを含み、CsCl構造を有する第1層と、 垂直磁気異方性を有する磁性体を含む第1磁性層と、 前記第1層と前記第1磁性層との間に設けられた第1非磁性層と、 前記第1層と前記第1非磁性層との間に設けられ、MnおよびGaを含むとともに垂直磁気異方性を有する磁性体を含む第2磁性層と、 を備えた磁気抵抗素子。
IPC (8):
H01L 43/08 ,  H01L 43/10 ,  H01L 29/82 ,  H01L 21/824 ,  H01L 27/105 ,  H01F 10/16 ,  H01F 10/32 ,  H01F 10/30
FI (7):
H01L43/08 M ,  H01L29/82 Z ,  H01L43/08 Z ,  H01L27/10 447 ,  H01F10/16 ,  H01F10/32 ,  H01F10/30
F-Term (44):
4M119BB01 ,  4M119CC05 ,  4M119DD03 ,  4M119DD05 ,  4M119DD06 ,  4M119DD09 ,  4M119DD17 ,  4M119DD33 ,  4M119DD45 ,  4M119EE22 ,  4M119EE27 ,  4M119FF05 ,  4M119FF15 ,  4M119FF17 ,  5E049AA04 ,  5E049AA09 ,  5E049BA30 ,  5E049CB02 ,  5E049DB12 ,  5E049DB14 ,  5E049GC01 ,  5F092AB08 ,  5F092AC12 ,  5F092AD23 ,  5F092AD25 ,  5F092BB10 ,  5F092BB17 ,  5F092BB22 ,  5F092BB23 ,  5F092BB24 ,  5F092BB34 ,  5F092BB35 ,  5F092BB36 ,  5F092BB42 ,  5F092BC03 ,  5F092BC04 ,  5F092BC07 ,  5F092BC09 ,  5F092BC12 ,  5F092BC13 ,  5F092BC14 ,  5F092BE13 ,  5F092BE14 ,  5F092BE21
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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