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J-GLOBAL ID:201603016169332406
蛍光観察システム
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
栗原 浩之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014152173
Publication number (International publication number):2016031247
Application date: Jul. 25, 2014
Publication date: Mar. 07, 2016
Summary:
【課題】電界や磁界、電磁波による物理的刺激を受けた被検体の状態をより正確に観察することができる蛍光観察システムを提供する。【解決手段】電界や磁界、電磁波を発生させる電磁界発生装置10と、励起光を出射する励起光源装置20と、電磁界発生装置10により発生した電界や磁界、電磁波に曝露された被検体60に、励起光源装置20からの励起光が照射されることで放出された蛍光を伝送するファイバープローブ30と、ファイバープローブ30で集光した蛍光を撮像する撮像手段40とを備え、ファイバープローブ30は、非導電性かつ非磁性の材料で形成されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
電界、磁界又は電磁波を発生させる電磁界発生装置と、
励起光を出射する励起光源装置と、
前記電磁界発生装置により発生した電界、磁界又は電磁波に曝露された被検体に、前記励起光源装置からの励起光が照射されることで放出された蛍光を伝送するファイバープローブと、
前記ファイバープローブで集光した蛍光を撮像する撮像手段とを備え、
前記ファイバープローブは、非導電性かつ非磁性の材料で形成されている
ことを特徴とする蛍光観察システム。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (8):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043FA01
, 2G043HA01
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043NA01
, 2G043NA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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分析装置、分析方法および収容部材
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