粒子観察装置及びマニピュレート装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：三好秀和 , 岩▲崎▼ 幸邦 , 伊藤正和 , 高橋俊一 , 高松俊雄
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2011168314
Publication number (International publication number)：2013032934
Patent number：5849503
Application date： Aug. 01, 2011
Publication date： Feb. 14, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】内部に磁性微粒子を含む流体が存在する観察セルと、前記観察セル内の磁性微粒子の画像を連続して撮像する撮像装置と、前記撮像装置で撮像された画像から磁性微粒子の座標と断面積を求める演算部と、前回撮像された画像における追尾の対象の磁性微粒子である追尾粒子の座標及び断面積と、新たに撮像された画像から前記演算部で求められた磁性微粒子の座標及び断面積とを比較して、追尾粒子を追尾する追尾部と、前記撮像装置で撮像された画像を表示装置に表示するとともに、前記表示装置に表示される画像上で前記追尾部が追尾した追尾粒子にマークを表示する表示処理部と、前記観察セルが存在する観察領域内の磁界を調整可能な磁力線を発生させる磁力発生部と、前記観察セル内の流体が静止した状態で、追尾粒子を所定の目標位置に把持させる磁力線を発生させる制御値を出力して前記磁力発生部を制御する粒子移動制御部と、前記撮像装置で異なる方向から撮像された追尾粒子の複数の画像から求めた当該追尾粒子の体積と、前記粒子移動制御部が求めた制御値から求めた当該追尾粒子に与えられる重力と、前記観察領域に磁性微粒子が配置されない状態で予め測定された前記観察領域の磁界分布とを利用して当該追尾粒子の磁気特性を求める特性演算部と、を備えることを特徴とする粒子観察装置。

IPC (1)：

G01N 15/14 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 15/14 D , G01N 15/14 K

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

粒子観察装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2010-004029 Applicant：株式会社IHI
静電泳動粒子のプロファイリングシステム及び方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2004-560251 Applicant：オーラバイオシステムズインコーポレイテッド
磁気勾配下液中微粒子磁気トラップ分離方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-278023 Applicant：大阪大学長

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Cited by examiner (6)

粒子観察装置
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