光ヘテロダイン距離計

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：工藤実
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012042298
Publication number (International publication number)：2013178169
Patent number：6019360
Application date： Feb. 28, 2012
Publication date： Sep. 09, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】信号光を生成する第1光源と、参照光を生成する第2光源と、前記参照光と、測定対象によって反射された後の前記信号光とが入射され、電気信号であるビート信号を出力する第1光検出器と、電気信号である参照信号を生成する信号生成器と、前記ビート信号と前記参照信号とから前記測定対象の距離を算出する距離算出手段とを具備し、前記信号光と前記参照光とは、いずれも光周波数コムとして生成されており、前記信号光と前記参照光のそれぞれの繰り返し周波数は、一方の繰り返し周波数が他方の繰り返し周波数の整数倍にならないように設定されており、前記距離算出手段は、変調信号を生成する変調信号生成器と、前記変調信号を前記ビート信号で変調してヘテロダイン信号を生成するミキサと、前記ヘテロダイン信号と前記参照信号との位相差を検出する位相差検出器と、検出された前記位相差から前記測定対象の距離を算出する演算部とを備えている光ヘテロダイン距離計。

IPC (1)：

G01S 17/32 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01S 17/32

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

テラヘルツレーダ装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2009-233258 Applicant：株式会社豊田中央研究所, 国立大学法人大阪大学
距離計及び距離測定方法並びに光学的三次元形状測定機
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-174860 Applicant：株式会社光コム
干渉検出装置、トモグラフィー装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-046831 Applicant：財団法人神奈川科学技術アカデミー

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