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J-GLOBAL ID：201702244393969139   Reference number：17A0606060

Permeability Measurements of Thin Film Using a Flexible Microstrip Line-Type Probe Up To 40 GHz

40GHzまでのフレキシブルマイクロストリップ線路型プローブを用いた薄膜の透磁率測定

Author (8)： Yabukami S. (Tohoku Gakuin University) ,  Kusunoki K. (Sendai National College of Technology) ,  Uetake H. (Tohoku Gakuin University) ,  Yamada H. (Sendai National College of Technology) ,  Ozawa T. (Tohoku Gakuin University) ,  Utsumi R. (Toei Scientific Industrial Company Ltd.) ,  Moriizumi T. (Candox Systems Inc.) ,  Shimada Y. (Graduate School of Engineering, Tohoku University)
Material： Journal of the Magnetics Society of Japan (Web)  (J Magn Soc Jpn (Web))
Volume： 41  Issue： 2  Page： 25-28(J-STAGE)  Publication year： 2017 
JST Material Number： U0776A  ISSN： 1882-2932  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *magnetic permeability ,  magnetic permeability measurement ,  *magnetic measurement instrument ,  *flexible circuit board ,  *microstrip line ,  probe ,  *magnetic thin film ,  *amorphous magnetic material ,  *cobalt base alloy ,  niobium containing alloy ,  zirconium containing alloy ,  iron containing alloy ,  boron containing alloy ,  intermetallic compound ,  *magnetization characteristic ,  *equation ,  wide band ,  eddy current ,  ferromagnetic resonance
Semi thesaurus term： *permeameter ,  *LLG equation

Author keywords (4)： flexible microstrip-line-type probe ,  skin effect ,  permeability ,  very thin film

JST classification (3)： Measuring techniques and equipments of magnetic materials  (BM06030I) ,  Magnetic domain and magnetization processes of metals  (BM06112D) ,  Magnetic materials  (NA04040H)

Reference (11)：

• 1) P. A. Calcagno, D. A. Thompson: Rev. Sci. Instrum., 46, 904 (1975).
• 2) M. Yamaguchi, S. Yabukami and K.I. Arai: IEEE Trans. Magn., 32, 4941 (1996).
• 3) H. B. Weir: Proc IEEE., 62, 33 (1975).
• 4) T. Kimura, S. Yabukami, T. Ozawa, Y. Miyazawa, H. Kenju, Y. Shimada: J. Magn. Soc. Jpn. 38, pp. 87-91 (2014).
• 5) K. Kusunoki, S. Yabukami, T. Ozawa, H. Uetake, H. Yamada, Y. Miyazawa, Y. Shimada: J. Magn. Soc. Jpn. 39, pp. 111-115 (2015).

Terms in the title (4)： マイクロストリップ線路 ,  プローブ ,  薄膜 ,  透磁率測定