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J-GLOBAL ID：201703004188228325

濃度測定装置

Inventor：
西田 和弘

About 西田 和弘

, 
清水 孝一

About 清水 孝一


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社

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国立大学法人北海道大学

About 国立大学法人北海道大学


Agent (3)： 黒田 泰 ,  竹腰 昇 ,  井上 一
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012135642
Publication number (International publication number)：2014001946
Patent number：6048950
Application date： Jun. 15, 2012
Publication date： Jan. 09, 2014
Claim (excerpt)：
【請求項1】 生体の所定部位にプローブを装着して前記生体に含有されている所定成分の濃度を測定する濃度測定装置であって、 光源から出力されたパルス光が光分岐部によって第1測定光と第2測定光とに分岐された前記第1測定光を前記生体に照射する第1照射部、及び、前記生体からの散乱光を集光する第1集光部を有する第1構成と、 反射鏡、前記第2測定光を前記反射鏡に照射する前記第1照射部と同一部材の第2照射部、及び、前記反射鏡からの反射光を集光する前記第1集光部と同一部材の第2集光部を有する第2構成と、 前記第1集光部で集光された散乱光を中継する第1中継部と、 前記第2集光部で集光された反射光を中継する前記第1中継部と同一部材且つ同一長さの第2中継部と、 前記第1中継部で中継された散乱光を検出する第1検出部と、 前記第2中継部で中継された反射光を検出する第2検出部と、 前記第1検出部により検出された散乱光の光強度に基づいて散乱光時間分解波形を取得する第1取得部と、 前記第2検出部で検出された前記反射光の光強度に基づいて装置関数時間分解波形を取得する第2取得部と、 前記散乱光時間分解波形を前記装置関数時間分解波形でデコンボリューション処理して測定系誤差を補償した散乱光時間分解波形を取得し、取得した散乱光時間分解波形を用いて、前記所定成分の濃度を算出する算出部と、 を備え、前記第1構成及び前記第2構成が前記プローブに内蔵された濃度測定装置。
IPC (1)：
G01N 21/17 ( 200 6.01)
FI (1)：
G01N 21/17 625
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (15)
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Cited by examiner (7)
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