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J-GLOBAL ID:201703008106741432
ε-Ga2O3単結晶、ε-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015121248
Publication number (International publication number):2017007871
Application date: Jun. 16, 2015
Publication date: Jan. 12, 2017
Summary:
【課題】 半導体素子に適用可能なε-Ga2O3単結晶、ε-Ga2O3の製造方法、および、それを用いた半導体素子を提供すること。【解決手段】 本発明によるε-Ga2O3単結晶は、カーボン濃度が5×1018cm-3以下に制御されている。本発明によるε-Ga2O3を製造する方法は、ハライド気相成長法により基板上にε-Ga2O3を成長するステップを包含する。基板は、空間群P63mcを有する単結晶基板またはβ-Ga2O3からなる単結晶基板である。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
カーボン濃度は、5×1018cm-3以下である、ε-Ga2O3単結晶。
IPC (4):
C30B 29/16
, C30B 25/20
, H01L 33/26
, H01L 31/108
FI (4):
C30B29/16
, C30B25/20
, H01L33/00 180
, H01L31/10 C
F-Term (35):
4G077AA02
, 4G077AA03
, 4G077AB01
, 4G077AB10
, 4G077BB07
, 4G077BB10
, 4G077BE13
, 4G077DB05
, 4G077EA01
, 4G077EA06
, 4G077EA07
, 4G077EB06
, 4G077EC09
, 4G077ED05
, 4G077HA06
, 4G077HA12
, 4G077TA04
, 4G077TA07
, 4G077TB04
, 4G077TC01
, 4G077TC03
, 4G077TC05
, 4G077TK01
, 4G077TK06
, 5F241AA03
, 5F241AA42
, 5F241CA05
, 5F241CA23
, 5F241CA40
, 5F241CA64
, 5F849AA05
, 5F849AB01
, 5F849LA03
, 5F849XB13
, 5F849XB39
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
-
酸化物結晶薄膜の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2013-118358
Applicant:株式会社FLOSFIA
-
ドーパントを添加した結晶性の高い導電性α型酸化ガリウム薄膜およびその生成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-164748
Applicant:公立大学法人高知工科大学
-
紫外透明導電膜とその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-182643
Applicant:科学技術振興事業団, 太田裕道, 折田政寛
Article cited by the Patent:
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