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J-GLOBAL ID：201703013635465754
残留塩素測定方法及び残留塩素測定装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：
平木 祐輔
, 藤田 節
, 田中 夏夫
, 江島 孝毅
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016013934
Publication number (International publication number)：2017133935
Application date： Jan. 28, 2016
Publication date： Aug. 03, 2017
Summary：
【課題】有害な試薬を用いることなく、客観的な測定結果を得ることができ、電位窓の影響を受けず、正確かつ簡便な、遊離残留塩素濃度を測定する方法および装置を提供すること。【解決手段】導電性ダイヤモンド電極を使用し、銀/塩化銀電極に対する導電性ダイヤモンド電極の電位を0V〜+1.6Vの範囲内の電位としたときの電流値を測定して次亜塩素酸イオンに基づく残留塩素濃度を算出し、銀/塩化銀電極に対する導電性ダイヤモンド電極の電位を+0.4V〜-1.0Vの範囲内の電位としたときの電流値を測定して次亜塩素酸に基づく残留塩素濃度を算出し、算出した次亜塩素酸イオンに基づく残留塩素濃度と、算出した次亜塩素酸に基づく残留塩素濃度とを加算して合計残留塩素濃度とする、残留塩素を測定する方法及び装置。【選択図】図6
Claim (excerpt)：
残留塩素を含有する可能性のある試料溶液に、作用電極、対電極および参照電極を接触させ、前記作用電極と、前記参照電極との間に電圧を印加して、当該電圧下における前記作用電極に流れる電流値を測定することにより、前記試料溶液に含まれる残留塩素濃度を測定する方法であって、
前記作用電極がホウ素をドープした導電性ダイヤモンド電極であり、
前記参照電極が銀/酸化銀電極であり、
(i)前記銀/酸化銀電極に対する前記導電性ダイヤモンド電極の電位を0V〜+1.6Vの範囲内の所定の電位としたときの電流値を測定して次亜塩素酸イオンに基づく残留塩素濃度を算出し、
(ii)前記銀/酸化銀電極に対する前記導電性ダイヤモンド電極の電位を+0.4V〜-1.0Vの範囲内の所定の電位としたときの電流値を測定して次亜塩素酸に基づく残留塩素濃度を算出し、
(iii)前記(i)の算出した次亜塩素酸イオンに基づく残留塩素濃度と、前記(ii)の算出した次亜塩素酸に基づく残留塩素濃度とを加算し、
前記加算して得られた合計残留塩素濃度を前記試料溶液の残留塩素濃度とする、残留塩素濃度測定方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N27/46 316
, G01N27/30 B
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