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J-GLOBAL ID：201703014458118131

3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法

Inventor：
古川 亮

About 古川 亮

, 
川崎 洋

About 川崎 洋


Applicant, Patent owner：
公立大学法人広島市立大学

About 公立大学法人広島市立大学

, 
国立大学法人 鹿児島大学

About 国立大学法人 鹿児島大学


Agent (3)： 木村 満 ,  末次 渉 ,  末富 孝典
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016113925
Publication number (International publication number)：2017217215
Application date： Jun. 07, 2016
Publication date： Dec. 14, 2017
Summary：
【課題】計測対象の3次元形状を、あるいはその大きさを安定して計測する。【解決手段】線分の接続状態によって区別可能なノードとエッジから成るグラフから構成される2次元パターンを計測対象に投光し、計測対象に投光されたパターンを撮像する。撮像された画像と2次元パターンについて、対応計算部52Aは、撮像された画像と計測用パターンについて、エピポーラ拘束に基づいて対応の解の候補となるノードを選択し、解の候補同士のグラフの接続状態に基づいて、画像に含まれるパターンの誤りを解消し解の候補の中から正しい対応の解(対応するノード)を得る。形状出力部52Bは、上述のようにして、対応の解(対応するノード)からステレオ処理(光切断法)により計測対象の3次元形状を算出して出力する。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
線分の接続状態又はパターンの対称性によって区別可能な特徴を有するノードとエッジから成るグラフから構成される2次元パターンを計測対象に投光する投光部と、 前記計測対象に投光されたパターンを撮像する撮像部と、 前記撮像された画像と前記2次元パターンについて、エピポーラ拘束に基づいて互いに対応するノードの解の候補を選択し、前記解の候補同士のグラフでの接続状態に基づいて、前記画像に含まれるパターンの誤りを解消し前記解の候補の中から正しい対応の解を得る対応計算部と、 前記対応の解に基づいてステレオ処理により前記計測対象の3次元形状を算出して出力する形状出力部と、 を備える3次元形状計測装置。
IPC (3)：
A61B 1/00 ,  A61B 1/04 ,  G02B 23/24
FI (5)：
A61B1/00 300E ,  A61B1/00 334D ,  A61B1/04 370 ,  G02B23/24 C ,  G02B23/24 A
F-Term (12)：
2H040BA15 ,  2H040CA11 ,  2H040CA22 ,  2H040CA27 ,  2H040DA51 ,  2H040GA02 ,  2H040GA11 ,  4C161FF43 ,  4C161GG15 ,  4C161HH52 ,  4C161HH53 ,  4C161SS21
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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