Pat
J-GLOBAL ID:201703017788576364

変状度判定方法及び変状度判定システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (8): 西島 孝喜 ,  弟子丸 健 ,  田中 伸一郎 ,  大塚 文昭 ,  須田 洋之 ,  上杉 浩 ,  近藤 直樹 ,  大浦 博司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2016110297
Publication number (International publication number):2017215248
Application date: Jun. 01, 2016
Publication date: Dec. 07, 2017
Summary:
【課題】地上の対象物の測定や判定を効率的かつ精度高く行うことができる、変状度判定方法及び変状度判定システムを提供することを目的とする。【解決手段】合成開口レーダを用いて測定される地表面上の対象物の変位量を取得する工程と、変位量と変状判定基準とを用いて対象物の変状度を判定する工程とを備える、変状度判定方法を提供する。また、合成開口レーダを用いて測定される地表面上の対象物の変位量を取得する、変位量取得部と、変位量と変状判定基準とを用いて対象物の変状度を判定する変状度判定部とを備える、変状度判定システムを提供する。【選択図】図5
Claim (excerpt):
合成開口レーダを用いて測定される地表面上の対象物の変位量を取得する工程と、 前記変位量と変状判定基準とを用いて前記対象物の変状度を判定する工程と を備える、変状度判定方法。
IPC (2):
G01S 13/90 ,  G01C 7/02
FI (2):
G01S13/90 ,  G01C7/02
F-Term (10):
5J070AC02 ,  5J070AE07 ,  5J070AF03 ,  5J070AF06 ,  5J070AF08 ,  5J070AH31 ,  5J070AJ14 ,  5J070AK40 ,  5J070BE04 ,  5J070BG27
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
Show all
Cited by examiner (5)
Show all
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page