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J-GLOBAL ID：201703018389149505

多波長測定装置

Inventor： 山本 直克 ,  赤羽 浩一 ,  川西 哲也 ,  寶迫 巌
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人情報通信研究機構
Agent (1)： 特許業務法人サクラ国際特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2012072316
Publication number (International publication number)：2013205113
Patent number：6192086
Application date： Mar. 27, 2012
Publication date： Oct. 07, 2013
Claim (excerpt)：

【請求項1】 1つの光共振器と, 前記1つの光共振器内に配置され,量子ドットをそれぞれ備え,互いに異なる複数の波長の光をそれぞれ発する,複数の構造体を積層してなり,前記複数の波長を含む光を前記一つの光共振器の外部に出射する発光部材と, 前記一つの光共振器の外部に出射された光から前記複数の波長の光のいずれかを選択する光学部材と, 複数の測定成分を含む測定対象を透過した,前記選択された波長の光を受光する受光素子と, を具備し、複数の成分を測定する多波長測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 ( 201 4.01) ,  H01S 5/00 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 21/35 ,  H01S 5/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 特開昭60-029642
  
• 異質インターサブバンド(HISB)光デバイス
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-035179   Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
• 半導体レーザ素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-071518   Applicant：株式会社日立製作所
• 光半導体素子、該光半導体素子を用いた波長可変光源および光断層画像取得装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-112668   Applicant：富士フイルム株式会社
• 生体光計測装置および生体計測用半導体レーザ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-076844   Applicant：株式会社日立製作所
• 半導体発光素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-230210   Applicant：三洋電機株式会社, 鳥取三洋電機株式会社
• 多波長量子ドットレーザ素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-137640   Applicant：財団法人工業技術研究院