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J-GLOBAL ID：201803003299422946

磁場変化に対する熱応答測定装置および測定方法

Inventor： 内田 健一 ,  平山 悠介 ,  宝野 和博
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人物質・材料研究機構
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017086061
Publication number (International publication number)：2018185186
Application date： Apr. 25, 2017
Publication date： Nov. 22, 2018
Summary：

【課題】磁場・周波数応答性特性の系統的評価の効率を向上させた磁場変化に対する熱応答測定装置を提供すること。【解決手段】測定対象物50が置かれる間隙18を有する磁気回路10と、測定対象物50に印加する磁場を周期的に変動させる印加磁場制御信号を出力する印加磁場制御部40と、周期的に温度変化する測定対象物50を連続撮影して赤外線熱画像データを取得する赤外線カメラ20と、取得した赤外線熱画像データのうち、電源回路44に出力される印加磁場制御信号に基づいて決定された、赤外線熱画像データを抽出する熱画像システムプロセス部30と、電源回路44に出力される印加磁場制御信号に基づいて決定される測定対象物50に印加される磁場の変化と、赤外線熱画像データから得られる測定対象物表面の温度分布の時間変化から、測定対象物50の磁場変化に対する熱応答を演算する磁場変化に対する熱応答演算部36とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象物に印加する磁場を変化させて、当該磁場の変化により当該測定対象物に生ずる温度変化を測定して、当該測定対象物の磁場変化に対する熱応答を測定する方法であって 前記測定対象物に印加する磁場を周期的に変動させる印加磁場制御信号を供給し、 前記測定対象物を赤外線カメラで撮像して前記測定対象物表面の複数の赤外線熱画像データを取得し、 該得られた複数の赤外線熱画像データから前記測定対象物表面の温度分布の時間変化を検出し、 前記印加磁場制御信号から、前記測定対象物に印加される磁場の変化(ΔH)に応答して発生した前記測定対象物表面の温度分布の変化(ΔT)を求め、前記測定対象物の磁場変化に対する熱応答を演算する ことを特徴とする磁場変化に対する熱応答測定方法。

IPC (4)：

G01N 25/00 ,  G01N 25/18 ,  H01F 7/02 ,  G01J 5/48

FI (4)：

G01N25/00 A ,  G01N25/18 J ,  H01F7/02 Z ,  G01J5/48 D

F-Term (12)：

2G040AB08 ,  2G040AB12 ,  2G040BA25 ,  2G040CA02 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040DA06 ,  2G040DA15 ,  2G066AC07 ,  2G066BC30 ,  2G066CA02 ,  2G066CA14