特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：あいわ特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017092144
Publication number (International publication number)：2018189497
Application date： May. 08, 2017
Publication date： Nov. 29, 2018
Summary：

【課題】特徴量を用いた3次元計測方法およびその装置を提供する。【解決手段】複数の投影部5A、5Bから投影されたパターンまたは前記パターンの変化の少なくとも一方により得られた複数個の特徴量と空間座標との関係を予め求め、特徴量と空間座標の関係を用いて、計測対象物表面6に複数の投影部から投影されたパターンまたはパターンの変化から得られた特徴量から対象物表面の空間座標を求める。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

複数の投影部から投影されたパターンまたは前記パターンの変化の少なくとも一方により得られた複数個の特徴量と空間座標との関係を予め求めるステップを含む計測対象物表面の空間座標を求める計測方法。

IPC (1)：

G01B 11/00

FI (1)：

G01B11/00 A

F-Term (24)：

2F065AA01 , 2F065AA04 , 2F065AA51 , 2F065AA53 , 2F065BB01 , 2F065BB05 , 2F065DD02 , 2F065DD03 , 2F065DD06 , 2F065DD14 , 2F065FF04 , 2F065FF05 , 2F065FF61 , 2F065GG23 , 2F065HH07 , 2F065HH14 , 2F065JJ19 , 2F065JJ26 , 2F065LL04 , 2F065QQ16 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ31 , 2F065RR08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

三次元形状計測装置及び三次元形状計測方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-025380 Applicant：NECエンジニアリング株式会社
三次元形状計測方法及び装置並びに記録媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-082414 Applicant：日本電気株式会社
3次元形状計測装置およびキャリブレーション方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2012-021835 Applicant：オムロン株式会社

Show all

Return to Previous Page