Pat

J-GLOBAL ID：201903021234974980

偏光フィルムの撮像装置、及び検査装置、並びに検査方法

Inventor： 佐々木 俊介 ,  末廣 一郎 ,  柴田 秀平 ,  デイビッド セラノ ,  大谷 幸利
Applicant, Patent owner： 日東電工株式会社 ,  国立大学法人宇都宮大学
Agent (3)： 藤本 昇 ,  中谷 寛昭 ,  北田 明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017148174
Publication number (International publication number)：2019027948
Application date： Jul. 31, 2017
Publication date： Feb. 21, 2019
Summary：

【課題】偏光フィルムの欠陥を強調した画像を得ることができる撮像装置、及び該撮像装置を備えた検査装置、並びに該撮像装置を用いた検査方法を提供することを課題とする。【解決手段】検査対象となる偏光フィルムFに向けて光を照射するための光源2と、該光源の光軸上において前記光源とは反対側で前記偏光フィルムに向けて配置される撮像部3とを備え、前記光源と前記偏光フィルムとの間に配置される円偏光板4、及び前記偏光フィルムと前記撮像部との間に配置された波長板5の少なくとも何れか一方を備える偏光フィルムの撮像装置1、及び該撮像装置を備える偏光フィルムの検査装置、並びに該撮像装置を用いる偏光フィルムの検査方法。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

検査対象となる偏光フィルムに向けて光を照射するための光源と、 該光源の光軸上において前記光源とは反対側で前記偏光フィルムに向けて配置される撮像部とを備え、 前記光源と前記偏光フィルムとの間に配置される円偏光板、及び前記偏光フィルムと前記撮像部との間に配置された波長板の少なくとも何れか一方を備える偏光フィルムの撮像装置。

IPC (2)：

G01N 21/88 ,  G01N 21/958

FI (2)：

G01N21/88 H ,  G01N21/958

F-Term (5)：

2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051CB02 ,  2G051EA16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• パターン化位相差フィルムの欠陥検査装置及び方法並びに製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-188469   Applicant：富士フイルム株式会社
• 偏光検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-248976   Applicant：横河電機株式会社
• 光学特性測定方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2011-149105   Applicant：富士フイルム株式会社
• 光学フィルムの検査装置および光学フィルムの検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2012-271893   Applicant：三菱電機株式会社
• 偏波多重信号解析装置および方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2010-210574   Applicant：アンリツ株式会社
• 偏光画像計測表示システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2014-194840   Applicant：富士フイルム株式会社
• 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-340274   Applicant：日東電工株式会社