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J-GLOBAL ID：202002262226956110   Reference number：20A0516649

巨大熱電効果を有する有機半導体薄膜の温度変調による結晶構造解析

Author (8)： ABE RYO (奈良先端科学技術大学院大) ,  KIKUCHI MAMORU (岩手大) ,  KOGANEZAWA TOMOYUKI (高輝度光科学研究セ) ,  WATANABE TAKESHI (高輝度光科学研究セ) ,  KOJIMA HIROTAKA (奈良先端科学技術大学院大) ,  IKEDA MASAAKI (日本化薬) ,  YOSHIMOTO NORIYUKI (岩手大) ,  NAKAMURA MASAKAZU (奈良先端科学技術大学院大)
Material： SPring-8/SACLA利用研究成果集(Web)  (SPring-8/SACLA Research Report (Web))
Volume： 8  Issue： 1  Page： WEB ONLY  Publication year： Jan. 22, 2020 
JST Material Number： U1844A  ISSN： 2187-6886  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *thermoelectric effect ,  organic semiconductor ,  *semiconductor thin film ,  *crystal structure analysis ,  lattice constant ,  temperature control ,  thermal expansion ,  transport coefficient ,  thermoelectric material ,  Seebeck coefficient
Semi thesaurus term： lattice parameter ,  temperature modulation

JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Thermoelectric devices  (NC03090J)

Reference (12)：

• H. Kojima et al., Appl. Phys. Express 8, 121301 (2015).
• H. Kojima et al., Mater. Chem. Front. 2, 1276 (2018).
• T. Watanabe et al., Jpn. J. Appl. Phys. 53, 01AD01 (2014).
• H. Yoshida, K. Inaba, and N. Sato, Appl. Phys. Lett. 90, 181930 (2007).
• C. C. Mattheus et al., Acta Crystallogr. Sect. C 57, 939 (2001).

Terms in the title (4)： 熱電効果 ,  半導体薄膜 ,  温度変調 ,  結晶構造解析