Art

J-GLOBAL ID：202002266080997859   Reference number：20A2302263

Development of Combined Measurement System for Appropriate Management of Nanomaterials.

ナノ材料適正管理のための複合計測システムの開発

Author (13)： ICHIMURA SHINGO (早稲田大 リサーチイノベーションセ) ,  KATO HARUHISA (産業技術総合研 計量標準総合セ) ,  HORIIKE SHIGEYOSHI (島津製作所 基盤技研) ,  SUGISAWA HISASHI (日本電子) ,  KUROKAWA AKIRA (産業技術総合研 物質計測標準研究部門) ,  KUMAGAI KAZUHIRO (産業技術総合研 計量標準総合セ) ,  SHIRAKAWABE YOSHIHARU (日立ハイテク) ,  SHIGEFUJI TOMOO (産業技術総合研 計量標準総合セ) ,  YAMAGUCHI TETSUJI (堀場製作所 第2製品開発セ) ,  TAKAHASHI KAYORI (産業技術総合研) ,  INOUE SHINSUKE (島津製作所) ,  INAGAKI KAZUMI (産業技術総合研) ,  FUJIMOTO TOSHIYUKI (産業技術総合研 計量標準総合セ)
Material： ぶんせき
Issue： 10  Page： 366-373  Publication year： Oct. 05, 2020 
JST Material Number： S0128B  ISSN： 0386-2178  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： nanomaterial ,  *nano particle ,  *particle size distribution ,  sample preparation ,  electron microscopy ,  freeze drying ,  microscopy ,  *grain size analysis ,  field flow fractionation ,  centrifugal separation ,  dynamic light scattering ,  ICP-MS analysis ,  silicon dioxide ,  classification(separation) ,  classifier(separator)
Semi thesaurus term： Microscopy, Atomic Force

JST classification (3)： Colloid chemistry in general  (CB11010C) ,  Miscellaneous analytical methods of inorganic substance in general  (CC08021Z) ,  Settling  (XD02080E)

Reference (14)：

• 日本分析機器産業の競争力強化について, 産業技術総合研究所調査報告書, AIST11-B00006-1(2011).
• T. Linsinger, G. Roebben, D. Gilliland, L. Calzolai, F. Rossi, N. Gibson, C. Kein : Requirements on measurements for the implementation of the European Commision definition of the term ”nanomaterial”, JRC Reference report (2012) .
• ISO/TR 13014, Nanotechnologies Guidance on physico-chemical characterization of engineered nanoscale materials for toxicologic assessment (2012).
• JIS Z 8828, 粒子径解析-動的光散乱法(2019).
• H. Kato, A. Nakamura, H. Banno :J. Chromatogr. A, 1602, 409(2019).

Terms in the title (4)： ナノ材料 ,  適正管理 ,  計測システム ,  開発