岩石サンプルの分析

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：山本秀策 , 森下夏樹 , 飯田貴敏 , 石川大輔 , 山本健策
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2019562636
Publication number (International publication number)：2020519901
Application date： May. 11, 2018
Publication date： Jul. 02, 2020
Summary：

本発明は、データベース内のサンプル領域の元素マップにアクセスすることであって、各元素マップは、ピクセルのアレイを含み、各ピクセルは、ピクセルが化学元素に相関する近似度を表す、値を有する、ことと、化学元素を含む、複数の化学元素に関する閾値を記憶する、データベースにアクセスすることと、元素マップのそれぞれ内のピクセルの値が対応する化学元素に関する閾値を上回るかまたはそれ未満であるかを決定することによって、ピクセルに対応するサンプル領域の一部内の物質の存在を決定することと、ピクセル内の物質の存在に基づいて、ピクセルを標識化することと、グラフィカルインターフェース上にレンダリングするために、物質マップを表すデータを出力することとを含む、岩石のサンプル領域の画像から岩石を分析するための方法、コンピュータプログラム、およびシステムを提供する。

Claim (excerpt)：

岩石のサンプル領域の画像から岩石を分析するための方法であって、前記方法は、 1つ以上の処理デバイスによって、データベース内の前記サンプル領域の元素マップにアクセスすることであって、各元素マップは、ピクセルのアレイを備え、各ピクセルは、前記ピクセルが化学元素に相関する近似度を表す値を有する、ことと、 1つ以上の処理デバイスによって、前記化学元素を含む複数の化学元素に関する閾値を記憶するデータベースにアクセスすることと、 1つ以上の処理デバイスによって、前記元素マップのそれぞれ内のピクセルの値が対応する化学元素に関する閾値を上回るかまたはそれ未満であるかを決定することによって、前記ピクセルに対応する前記サンプル領域の一部内の物質の存在を決定することと、 1つ以上の処理デバイスによって、前記ピクセル内の前記物質の存在に基づいて、前記ピクセルを標識化することと、 1つ以上の処理デバイスによって、グラフィカルインターフェース上にレンダリングするために、前記物質マップを表すデータを出力することとを含む、方法。

IPC (4)：

G01N 23/225 , G01N 23/220 , G01N 23/223 , G01N 33/24

FI (5)：

G01N23/2251 , G01N23/2209 , G01N23/223 , G01N23/2206 , G01N33/24 D

F-Term (7)：

2G001AA01 , 2G001AA03 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001CA03 , 2G001EA03 , 2G001GA01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特許第9188555号
自動化された鉱物分類
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2015-539608 Applicant：エフ・イ-・アイ・カンパニー
自動化されたEDS標準の較正
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2015-525486 Applicant：エフ・イ-・アイ・カンパニー

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

走査型X線分析顕微鏡画像の解析による鉱物分布画像の作成

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