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J-GLOBAL ID：202003012223487566

磁場発生源検出装置および磁場発生源検出方法

Inventor：
芳井 義治

About 芳井 義治


Applicant, Patent owner：
スミダコーポレーション株式会社

About スミダコーポレーション株式会社


Agent (1)： 青木 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2018202362
Publication number (International publication number)：2020067444
Application date： Oct. 26, 2018
Publication date： Apr. 30, 2020
Summary：
【課題】 比較的低コストで、検査対象物体内部の磁場発生源の深さ方向の位置を推定可能である磁場発生源検出装置および磁場発生源検出方法を得る。【解決手段】 磁気センサ部10は、検査対象物体の表面上または表面上方において被測定磁場の強度および向きを検出する。位置推定部22は、磁気センサ部10によって上述の表面の2次元方向における少なくとも2つの位置で検出された被測定磁場の強度および向きに基づいて、検査対象物体内部の不特定の位置に存在している磁場発生源の深さ方向の位置を推定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
検査対象物体の表面上または表面上方において被測定磁場の強度および向きを検出する磁気センサ部と、 前記磁気センサ部によって前記表面の2次元方向における少なくとも2つの位置で検出された前記被測定磁場の強度および向きに基づいて、前記検査対象物体内部の不特定の位置に存在している磁場発生源の深さ方向の位置を推定する位置推定部と、 を備えることを特徴とする磁場発生源検出装置。
IPC (1)：
G01R 33/02
FI (2)：
G01R33/02 ,  G01R33/02 A
F-Term (3)：
2G017AA01 ,  2G017AD69 ,  2G017BA15
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (6)
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Cited by examiner (6)
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