偏光特性測定方法および偏光特性測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：福田伸一 , 水崎慎
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017098856
Publication number (International publication number)：2018194455
Patent number：6923909
Application date： May. 18, 2017
Publication date： Dec. 06, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】光源が発光する光波長と異なる設計光波長の位相板を用いた偏光特性測定方法であって、前記位相板を備えた偏光解析部を介して検出器が検出した光強度を用いて前記位相板の位相差を演算手段が算出する第1過程と、前記第1過程で算出した位相差を用いて前記位相板を備えた偏光解析部のストークスベクトルを前記演算手段が算出する第2過程と、を有し、前記第1過程は、前記光源と前記偏光解析部との間に設置される偏光変調部の位相方位角度ならびに透過方位角度を任意の角度に設定する第3過程と、前記偏光解析部の位相方位角度ならびに透過方位角度を任意の角度に設定する第4過程と、前記第3過程および前記第4過程で設定された状態において前記検出器が撮影した画像ファイルを記憶手段へ記憶させる第5過程と、を有し、前記第4過程と前記第5過程とを所定回数繰り返すことにより、前記偏光解析部の位相方位角度ならびに透過方位角度の設定角度を変更して撮影させた画像ファイルを順次記憶させ、該記憶させた各画像ファイルの光強度を用いて前記位相板の位相差を算出し、前記第2過程は、前記第1過程で算出した位相差および前記位相方位角度ならびに透過方位角度の各設定角度を用いて、所定の演算により前記位相板のストークスベクトルの各係数を求める第6過程と、前記各係数を要素とする伝達行列およびその逆行列を求め、前記各画像ファイルの光強度を要素とする光強度行列と前記逆行列とを用いた演算により、前記ストークスベクトルを求める第7過程と、を有することを特徴とする偏光特性測定方法。

IPC (2)：

G01N 21/21 ( 200 6.01) , G01N 21/23 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 21/21 Z , G01N 21/23

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

光学特性測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2011-149106 Applicant：富士フイルム株式会社
位相差板式偏光方法及びリターディション測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-132692 Applicant：新谷隆一
偏光解析装置を用いた偏光解析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-407485 Applicant：株式会社フォトニックラティス

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