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J-GLOBAL ID:202203002570384636

センサチップ及びその製造方法、分析装置、並びに分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 長谷川 芳樹 ,  石坂 泰紀
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2018039978
Publication number (International publication number):2019152626
Patent number:7062272
Application date: Mar. 06, 2018
Publication date: Sep. 12, 2019
Claim (excerpt):
【請求項1】基板と、前記基板に設けられた複数の電極対と、前記電極対の対向部を被覆する絶縁性の被膜と、を備えるセンサチップであって、 前記複数の電極対のうちの少なくとも2つにおける前記被膜は、互いに異なる厚みを有し、 検知対象成分と、当該検知対象成分の酸化還元反応に関与する反応基質と、を含有する試料の分析用であるセンサチップ。
IPC (2):
G01N 27/416 ( 200 6.01) ,  G01N 33/72 ( 200 6.01)
FI (3):
G01N 27/416 300 S ,  G01N 33/72 A ,  G01N 27/416 336 G
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 国際純正応用化学連合(IUPAC)高分子命名法委員会による高分子科学の基本的術語の用語集(日本語訳)
Cited by examiner (1)
  • 国際純正応用化学連合(IUPAC)高分子命名法委員会による高分子科学の基本的術語の用語集(日本語訳)

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