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J-GLOBAL ID:202203003227762699

MIS型半導体装置およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2018138093
Publication number (International publication number):2019125771
Patent number:7101980
Application date: Jul. 24, 2018
Publication date: Jul. 25, 2019
Claim (excerpt):
【請求項1】 半導体層と絶縁体層と導電体層を有し、前記絶縁体層が前記半導体層と前記導電体層で挟まれたMIS型半導体装置であって、 前記半導体層はダイヤモンドからなる半導体を含み、 前記絶縁体層は単結晶の窒化ホウ素からなり、 前記MIS型半導体装置のキャリアはホールである、MIS型半導体装置。
IPC (3):
H01L 21/336 ( 200 6.01) ,  H01L 29/78 ( 200 6.01) ,  H01L 21/314 ( 200 6.01)
FI (2):
H01L 29/78 301 B ,  H01L 21/314 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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