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J-GLOBAL ID:202203009635023860
電子製品の評価方法および評価装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
福田 伸一
, 水崎 慎
, 高橋 克宗
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2018154669
Publication number (International publication number):2020030073
Patent number:7075121
Application date: Aug. 21, 2018
Publication date: Feb. 27, 2020
Claim (excerpt):
【請求項1】 ノイズ源が電子製品に備えられた伝送線路へコモンモードノイズの周波数をスイープしながら注入する第1過程と、 前記伝送線路を介して前記電子製品に備えられたデバイスの端子に注入された前記コモンモードノイズの各周波数におけるノイズレベルを示す周波数特性を測定する第2過程と、 前記デバイスに誤動作が発生する各ノイズ周波数におけるノイズレベルを示す耐久特性を取得する第3過程と、 前記周波数特性と前記耐久特性とから、前記電子製品に誤動作を発生させる前記コモンモードノイズの周波数帯を特定する第4過程と、 を有することを特徴とする電子製品の評価方法。
IPC (3):
G01R 31/30 ( 200 6.01)
, G01R 31/00 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
FI (3):
G01R 31/30
, G01R 31/00
, G01R 31/28 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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差動通信装置、測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2016-249790
Applicant:株式会社SOKEN, トヨタ自動車株式会社
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電気回路の評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2013-125842
Applicant:ローム株式会社
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差動信号伝送線路、ICパッケージおよびそれらの試験方法
Gazette classification:再公表公報
Application number:JP2011002188
Applicant:パナソニック株式会社