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J-GLOBAL ID:201503031796792146
電気回路の評価方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
佐野 静夫
, 林田 英樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013125842
Publication number (International publication number):2015001436
Application date: Jun. 14, 2013
Publication date: Jan. 05, 2015
Summary:
【課題】実際の使用状態を反映した誤動作評価が可能な電気回路の評価方法を提供する。【解決手段】本発明に係る電気回路の評価方法は、対象電気回路10をシールド構造110内に配置するとともに、誤動作テスト用のノイズ信号を対象電気回路10に入力し、シールド構造110のグラウンドと対象電気回路10に誤動作テスト用のノイズ信号を入力するノイズ源部20のグラウンドとをショートさせるとともに、対象電気回路10のグラウンドとシールド構造110のグラウンドとは遮断されていることを特徴とする。【選択図】図12
Claim (excerpt):
対象電気回路をシールド構造内に配置するとともに、誤動作テスト用のノイズ信号を前記対象電気回路に入力し、前記シールド構造のグラウンドと前記対象電気回路に誤動作テスト用のノイズ信号を入力するノイズ源部のグラウンドとをショートさせるとともに、前記対象電気回路のグラウンドと前記シールド構造のグラウンドとは遮断されていることを特徴とする電気回路の評価方法。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (12):
2G036AA06
, 2G036AA07
, 2G036AA10
, 2G036AA19
, 2G036BB12
, 2G036CA06
, 2G036CA12
, 2G132AA00
, 2G132AA20
, 2G132AB10
, 2G132AE23
, 2G132AE27
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
電子回路基板のコモンモード・インピーダンス測定方法及びその測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-295192
Applicant:松下電工株式会社
-
半導体評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-052003
Applicant:株式会社デンソー
-
半導体評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-103913
Applicant:株式会社デンソー
-
半導体評価装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-104195
Applicant:株式会社デンソー
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Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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