プラスチックまたはゴムの分析方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2020110070
Publication number (International publication number)：2022007236
Application date： Jun. 26, 2020
Publication date： Jan. 13, 2022
Summary：

【課題】本発明の課題は、プラスチック材またはゴム材の劣化による破断伸び等の性質の低下を非破壊で分析できるプラスチック材またはゴム材分析方法の提供にある。【解決手段】プラスチックまたはゴムの所望の性質を、近赤外光を用いて分析する方法であって、(i)プラスチックまたはゴムの近赤外線領域の吸光度を測定する工程と(ii)吸光度の測定により得られた近赤外スペクトルデータを二次微分処理して補正スペクトルデータを得る工程と、(iii)補正スペクトルデータの各波長における吸光度の二次微分値に対して、PLS回帰分析により得られる回帰係数をそれぞれ乗算して足し合わせた値を算出する工程とを含み、得られた値がプラスチックまたはゴムの所望の性質の推測値を示す、分析方法を提供する。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

プラスチックまたはゴムの所望の性質を、近赤外光を用いて分析する方法であって、 (i)前記プラスチックまたはゴムの近赤外線領域の吸光度を測定する工程と (ii)前記工程(i)における吸光度の測定により得られた近赤外スペクトルデータを二次微分処理して補正スペクトルデータを得る工程と (iii)前記工程(ii)により得られた補正スペクトルデータの各波長における吸光度の二次微分値に対して、PLS回帰分析により得られる回帰係数をそれぞれ乗算して足し合わせた値を算出する工程と、を含み、前記(iii)の工程により得られた値が前記プラスチックまたはゴムの所望の性質の推測値を示す、分析方法。

IPC (3)：

G01N 21/27 , G01N 21/359 , G01N 21/356

FI (3)：

G01N21/27 F , G01N21/359 , G01N21/3563

F-Term (6)：

2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059MM01 , 2G059MM12

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

プラスチック材の判定装置及びその判定方法とその分類装置及びその分類方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-017862 Applicant：株式会社日立製作所

Cited by examiner (5)

高分子化合物の不良品分離方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-337787 Applicant：三井化学株式会社
プラスチック材の判定装置及びその判定方法とその分類装置及びその分類方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-017862 Applicant：株式会社日立製作所
検量線移植方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-046030 Applicant：横河電機株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

Assessment of plastic waste materials degradation through near infrared

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