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J-GLOBAL ID：202303009801886100

検出装置および検出方法

Inventor： 山路 大樹 ,  箱田 博之 ,  山田 渉 ,  真鍋 宏幸
Applicant, Patent owner： 株式会社NTTドコモ
Agent (4)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  沖山 隆 ,  深石 賢治
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018072516
Publication number (International publication number)：2019184312
Patent number：7199822
Application date： Apr. 04, 2018
Publication date： Oct. 24, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】 ユーザが装着するHMDの一部として機能し、前記HMDを介して対象物に係る情報を前記ユーザに対して提示する検出装置であって、 再帰性反射材が貼付された前記対象物に対して光を照射する光源部と、 前記光源部からの光による前記再帰性反射材からの反射光を受光して前記対象物に係る撮像を行う撮像部と、 前記撮像部での撮像により得られた画像データから、前記再帰性反射材を撮像した領域を特定する反射材検出部と、 前記反射材検出部による検出結果に基づいて、前記対象物の配置に係るパラメータを推定するパラメータ推定部と、前記反射光の強度に基づいて、前記撮像部でのシャッタースピードを変更可能なカメラパラメータ設定部と、 を有する、検出装置。

IPC (2)：

G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G01B 11/26 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/26 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• ジェスチャインターフェースシステム、ジェスチャ入力用ワンド、アプリケーション制御方法、カメラ校正方法、及び制御プログラム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-332741   Applicant：富士ゼロックス株式会社
• 移動体計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-065486   Applicant：横浜ゴム株式会社
• シート状材料の表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-011996   Applicant：松下電工株式会社
• 情報提供方法及び情報提供システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-213373   Applicant：学校法人関西学院

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 「ウェアラブル拡張現実感のための不可視マーカと赤外線カメラを用いた位置・姿勢推定」