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J-GLOBAL ID:202403005473944523
光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
田▲崎▼ 聡
, 飯田 雅人
, 小林 淳一
, 川越 雄一郎
, 春田 洋孝
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2022108407
Publication number (International publication number):2024007144
Patent number:7425428
Application date: Jul. 05, 2022
Publication date: Jan. 18, 2024
Claim (excerpt):
【請求項1】 発光部と受光部を有する光学測定器に装着可能な光学測定器用サンプルホルダであって、前記発光部から前記受光部に到る光路内に、サンプルを収容する透明な筒状容器を保持する容器収容部を有するホルダ本体と、前記ホルダ本体の内部に設けられ、前記光路を挟んで互いに間隔を開けて配置された少なくとも一対の遮光壁とを有し、前記遮光壁の前記容器収容部側の端部には、断面が前記容器収容部へ向けて窄まる尖端部がそれぞれ形成され、前記尖端部は、前記容器収容部へ前記筒状容器が挿入された場合に、前記筒状容器の外周面に沿って前記筒状容器の軸線方向に延びるように配置され、前記遮光壁同士の間隙幅は、前記容器本体の内径の5~95%である光学測定器用サンプルホルダ。
IPC (2):
G01N 21/01 ( 200 6.01)
, G01N 21/59 ( 200 6.01)
FI (2):
G01N 21/01 B
, G01N 21/59 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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光学測定器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2015-187762
Applicant:ウシオ電機株式会社
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光学ユニット及び光学分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2013-122434
Applicant:NECソリューションイノベータ株式会社
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固体撮像装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-183165
Applicant:パナソニック株式会社
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