Pat
J-GLOBAL ID：202403007555063072

光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器

Inventor：
中島 雄太

About 中島 雄太

, 
西川 昌平

About 西川 昌平


Applicant, Patent owner：
国立大学法人 熊本大学

About 国立大学法人 熊本大学


Agent (5)： 田▲崎▼ 聡 ,  飯田 雅人 ,  小林 淳一 ,  川越 雄一郎 ,  春田 洋孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2022108407
Publication number (International publication number)：2024007144
Application date： Jul. 05, 2022
Publication date： Jan. 18, 2024
Summary：
【課題】構造が簡単で小型化が容易な光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器を提供する。 【解決手段】発光部10と受光部18を有する光学測定器1用のサンプルホルダ6であって、発光部10から受光部18に到る光路L内に、サンプルを収容する筒状容器26を保持するホルダ本体44と、光路Lを挟んで互いに間隔を開けて配置された二対の遮光壁36と、筒状容器26を支える支持壁38とを有する。 【選択図】図1
Claim (excerpt)：
発光部と受光部を有する光学測定器に装着可能な光学測定器用サンプルホルダであって、前記発光部から前記受光部に到る光路内に、サンプルを収容する透明な筒状容器を保持するホルダ本体と、前記ホルダ本体の内部に設けられ、前記光路を挟んで互いに間隔を開けて配置された少なくとも一対の遮光壁とを有する光学測定器用サンプルホルダ。
IPC (2)：
G01N 21/01 ,  G01N 21/59
FI (2)：
G01N21/01 B ,  G01N21/59 Z
F-Term (10)：
2G059AA01 ,  2G059AA06 ,  2G059BB04 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01 ,  2G059LL04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 光学測定器
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2015-187762   Applicant：ウシオ電機株式会社
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM