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J-GLOBAL ID：201702228978175317   整理番号：17A0685959

ナノアーキテクトニクス材料科学のためのマルチプローブ走査型プローブ顕微鏡

Multiple-probe scanning probe microscopes for nanoarchitectonic materials science

著者 (4件)： NAKAYAMA Tomonobu (National Inst. for Materials Sci. (NIMS), Ibaraki, JPN) ,  NAKAYAMA Tomonobu (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  SHINGAYA Yoshitaka (National Inst. for Materials Sci. (NIMS), Ibaraki, JPN) ,  AONO Masakazu (National Inst. for Materials Sci. (NIMS), Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 55  号： 11  ページ： 1102A7.1-1102A7.6  発行年： 2016年11月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノアーキテクトニクスは,様々なナノマテリアルやナノ構造の機能をナノシステムに利用した,次世代ナノテクノロジーの新しいパラダイムのコンセプトである。このレビューでは,マルチプローブ走査型プローブ顕微鏡(MP-SPM)を概説し,ナノアーキテクトニクス材料科学研究におけるMP-SPMのさらなる可能性について論じた。MP-SPMが開発され,個々のナノ材料およびナノ構造の電気的特性を研究するための注目すべき手段になっている。しかし,KFMとAFMとの組み合わせの例で示されるように,MP-SPMへの高度なプローブ顕微鏡技術をさらに実施する余地はまだ残されている。実施されるべき別の開発は,MP-SPMを様々な環境に適応させることである。すでにMP-SPMは空気中,超高真空中,室温および低温で作動している。最近では,本研究のMP-AFMが液体環境で動作することを確認した。

シソーラス用語： *ナノテクノロジー ,  *ナノ構造 ,  *材料科学 ,  プローブ ,  *走査型プローブ顕微鏡 ,  超高真空 ,  *ナノ材料 ,  位置 ,  液中
準シソーラス用語： マルチプローブ

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (57件)：

• M. Aono, Y. Bando, and K. Ariga, Adv. Mater. 24, 150 (2012).
• M. Aono and K. Ariga, Adv. Mater. 28, 989 (2016).
• G. Binnig and H. Rohrer, Helv. Phys. Acta 55, 726 (1982).
• G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber, and E. Weibel, Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).
• G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).

タイトルに関連する用語 (3件)： 材料科学 ,  マルチプローブ ,  走査型プローブ顕微鏡