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J-GLOBAL ID：200902203929897498   整理番号：09A0396390

縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法

著者 (5件)： 相京隆 (愛媛大 大学院) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院) ,  黒瀬洋介 (愛媛大 大学院) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2008  ページ： ROMBUNNO.10-12  発行年： 2008年09月15日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *縮退故障 ,  *電気故障 ,  *遷移状態 ,  CAD【計算機】 ,  *故障診断 ,  *回路試験器 ,  テストパターン
準シソーラス用語： 遷移故障 ,  テスト生成 ,  ATPG

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 縮退故障 ,  ATPG ,  遷移故障 ,  診断 ,  テスト生成