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J-GLOBAL ID：200902220823703424   整理番号：07A1044984

故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン

著者 (5件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  和泉太佑 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  相京隆 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2007  ページ： ROMBUNNO.10-6  発行年： 2007年09月15日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *LSI【IC】 ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 故障 ,  励起 ,  欠陥検出 ,  テストパターン