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J-GLOBAL ID：200902282479613130   整理番号：09A0396389

欠陥検出向けテストパターンの一選択法

著者 (5件)： 高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  和泉太佑 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  相京隆 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
巻： 2008  ページ： ROMBUNNO.10-11  発行年： 2008年09月15日 
JST資料番号： L1738B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *欠陥検査 ,  *テストパターン ,  *LSI【IC】 ,  *短絡【電気】 ,  縮退故障 ,  ベンチマーク ,  切断 ,  電気故障 ,  パターン分類 ,  断線
準シソーラス用語： ブリッジ故障 ,  オープン故障 ,  パターン選択

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 欠陥検出 ,  テストパターン ,  選択法