文献
J-GLOBAL ID:201002245756368716   整理番号:10A0543622

遅延故障診断に関する研究

著者 (4件):
資料名:
号:ページ: 18-20  発行年: 2010年03月 
JST資料番号: L5786B  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
抵抗性のショート欠陥やオープン欠陥のような微小な遅延故障を持つ故障回路を,従来の遷移故障モデルに基づく故障診断モデルに基づいて診断すると診断結果の精度に問題が生じる。本論文では,フェイルテストパターン集合による故障診断,及びパステストパターン集合を用いる故障診断からなる微小遅延故障診断法を提案した。前者は,1)時間付き5値シミュレーションを用いた活性化経路の探索,2)後方追跡による故障候補の推定,3)時間付き7値演算に基づく診断用遅延故障シミュレーションを用いた一致度の計算からなる。また,後者では前者の結果として得られた故障候補に対して時間付き7値演算に基づく診断用遅延故障シミュレーションを行い,故障候補の一致度に基づいて診断解を決定する。また,故障診断において故障候補数を少なくするには遅延故障のペアを区別する故障診断考慮テストを生成する必要があり,i)回路構造に基づく解析による区別不可能な故障ペアの識別,ii)2時刻展開した回路への付加回路の挿入による縮退故障用テスト生成ツールを用いた故障診断考慮テストの生成について検討した。実際にC言語によるプロトタイプを開発し,ベンチマーク回路に対する評価実験を行った。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (3件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
信頼性  ,  電子回路一般  ,  ネットワーク法 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る